整流橋怎么測量好壞?2種方法測量整流橋的好壞
一、電阻測試法

電阻測試法是利用二極管的單向導通特性，測試其正向有電阻讀值與反向截止無讀值來判斷其是否好壞，這套測量整流橋的好壞方法是很常見的一種。

測試工具與對象：一臺正常的萬用表與一款待判斷的整流橋。

測試條件設定：萬用表打到20K歐姆檔位，紅筆萬用表正極，黑筆萬用表負極。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負極，黑筆分別接兩個交流腳位，若均有讀值顯示則說明負極與交流之間的兩顆芯片正常；黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位，若均有讀值顯示則表明整流橋正極與交流間的兩顆芯片為正常。

測試結果總結：若測試過程中結果反饋如上所述，則表示該整流橋4顆芯片均正常，萬用表讀值為該測試芯片的內阻值；若出現(xiàn)非一致的情況，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經損壞。

二、壓降測試法

壓降測試法是利用萬用表二極管檔位直接測試整流橋內部二極管芯片的方法，讀值為壓降的參考值或近似值。測試方法與電阻測試法大致類似，也是很常見的一種測量整流橋好壞的方法。

測試工具與對象：一臺萬用表與一款待判斷的整流橋產品。

測試條件設定：萬用表打到二極管檔位，紅筆萬用表正極，黑筆萬用表負極。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負極，黑筆接整流橋正極，此時測試結果為整個整流橋的壓降參考值；如需分別測試每顆芯片的壓降值，則方法為黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位；紅筆接整流橋負極，黑筆分別探測兩個交流腳位，此時所測結果為內部獨立二極管芯片的壓降參數(shù)值。

測試結果總結：上述測試結果為該整流橋內部二極管芯片壓降的參考值，有示數(shù)說明該芯片正常，可以輔助判斷整流橋通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn)，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經損壞。